AFM全称Atomic Force Microscope，即原子力显微镜，它是继扫描隧道显微镜（Scanning Tunneling Microscope）之后发明的一种具有原子级高分辨的新型仪器，可以在大气和液体环境下对各种材料和样品进行纳米区域的物理性质包括形貌进行探测，或者直接进行纳米操纵；现已广泛应用于半导体、纳米功能材料、生物、化工、食品、医药研究和科研院所各种纳米相关学科的研究实验等领域中，成为纳米科学研究的基本工具。 AFM是由G.Binning在STM的基础上于1986年发明的表面观测仪器。 AFM=Atomic Force Microscope（原子力显微镜）。原子力显微镜与扫描隧道显微镜相比，由于能观测非导电样品，因此具有更为广泛的适用性。当前在科学研究和 工业界广泛使用的扫描力显微镜（Scanning Force Microscope），其基础就是原子力显微镜。 原理： 当原子间距离减小到一定程度以后，原子间的作用 力将迅速上升。因此，由显微探针受力的大小就可以直接 换算出样品表面的高度，从而获得样品表面形貌的信息。 配方成分分析包括业务领域： 成分分析：对中成分通过多种大型仪器联用获得相关微观谱对比谱图数据库检测出各组分成分及含量； 配方还原：通过还原各组分组成及比例，还原出的基础配方； 异物诊断：针对上的未知物，确定其主要组成成分，帮助客户分析出该异物产生的原因； 性能改进：针对性能根据分析产品配方找出相关性能差的原因并提出改进建议方案； 模仿生产：提供目标产品分析目标产品基础配方，指导厂商自身产品改进。