系统特征：
IV曲线显示/局部放大
程序保护电流/电压,以防损坏
品种繁多的曲线
可编程的数据点对应
增加线性或对数
可编程延迟时间可减少器件发热
保存和重新导入入口程序
保存和导入之前捕获图象
曲线数据直接导入到EXCEL
曲线程序和数据自动存入EXCEL
测试范围广（19大类、27分类）
曲线测试：
ID vs. VDS at range of VGS
ID vs. VGS at fixed VDS
IS vs. VSD
RDS vs. VGS at fixed ID
RDS vs. ID at several VGS
IDSS vs. VDS / HFE vs. IC
BVCE（O,S,R,V） vs. IC
BVEBO vs. IE
BVCBO vs. IC
VCE（SAT） vs. IC
VBE（SAT） vs. IC
VBE（ON） vs. IC （use VBE test）
VCE（SAT） vs. IB at a range of ICVF vs. IF
测试范围：
二极管 / DIODE
晶体管 / NPN型/PNP型
J型场效应管 / J-FET
MOS场效应管 / MOS-FET
双向可控硅 / TRIAC
可控硅 / SCR
绝缘栅双极大功率晶体管 / IGBT
硅触发可控硅 / STS
达林顿阵列 / DARLINTON
光电耦合 / OPTO-COUPLER
继电器 / RELAY
稳压、齐纳二极管 / ZENER
三端稳压器 / REGULATOR
光电开关 / OPTO-SWITCH
测试参数：
漏电参数：IR、 ICBO、 LCEO/S/X、IDSS/X、 IDOFF、 IDRM、 IRRM、
ICOFF、IDGO、ICES、IGESF、IGESR、IEBO、IGSSF、IGSSR、
IGSS、IGKO、 IR(OPTO)
击穿参数：BVCEO BVCES(300μS Pulse above 10mA)BVDSS、 VD、
BVCBO、 VDRM、 VRRM、 VBB、BVR 、 VD+、VD-、BVDGO、
BVZ、BVEBO、BVGSS、 BVGKO
增益参数：hFE、CTR、gFS
导通参数：VCESAT、VBESAT、VBEON、 VF、VT、VT+、VT-、 VON、
VDSON、VDON、VGSON、VF(Opto-Diode)VGSTH、VTM、
VGETH、VSD、IDON、VSAT、IDON、VO(Regulator)
Notch = IGT1、IGT4、ICON、VGEON、、IIN(Regulator)
关断参数：VGSOFF
触发参数：IGT、VGT
保持参数：IH、IH+、IH-
锁定参数：IL、IL+、IL-
混合参数：rDSON、gFS、Input Regulation、Output Regulation
间接参数：IL