采用了全新设计的发生器和DMC测量法光学编码定位系统，的高科技的FP法计算，能对样品数据进行快速、精准的分析，基于当前进的电子技术全新设计的电路板，仪器小巧，结构紧凑，灵敏度高，性价比。镀金膜厚测试仪完全突破了X射线荧光仪早期技术和相应理论基础上多年形成的传统观念，以全新理念实现了样品分析自动化、操作简单化、检测分析智能化、数据结果最优化、体积小型化、功能化的一次成功尝试。
专业测量金、银 钯 銠 镍 铜 锡 铬 锌 等贵金属多镀层膜厚测量，快速 精准 无损，业内广受好评，客户应
用广泛在 五金 连接器 PCB LED支架 通讯 卫浴 电池触点 电脑、仪表、汽车、家电以及数控机床等高科技电子领域行业以形成行业测量的标准。欢迎广大五金连接器客户联系 测量量样品 洽谈往来 本公司经营多年工程师经验丰富，商业合作个方式灵活。
电镀层测厚仪注意事项
A、工作电源要求：CMI900必须工作于稳定工作电压状态之下，必须对CMI900配置UPS后备电源，防止突然断电引起仪器损坏。UPS后备电源功率大约在1000W~2000W之间即可。
B、环境要求：CMI900是高科技精密测量仪器，对环境的要求特别高，环境的变化会直接影响测量精度、仪器稳定性、会导致仪器出现性能问题及影响仪器的使用寿命。下面是实验室环境条件基本要求：
□ 实验室的标准温度为20℃,一般检测间及试验间的温度应在20±5℃， 线值计量标准间为20±2℃，电工 与无线电专业的标准间和线值计量的计量检测仪器间为20±3℃。
□ 实验室内的相对湿度一般应保持在50－70％。
□ 实验室的噪音、防震、防尘、防腐蚀、防磁与屏蔽等方面的环境条件应符合在室内开展的检定项目的检测 仪器设备对环境条件的要求，室内采光应利于检定工作和计量检测工作的进行。
□ 实验室的环境条件出现异常，例如温度和湿度超过规定范围且明显影响检定或检测结果时或当环境条件经常出现异常情况，采取适当措施给予解决。