宇问EC-770X 大量程测厚仪 涂镀层测厚仪

EC-770X大量程涂层测厚仪

一、图片

二、产品特色

率先采用双核处理架构，32位ARM处理器，显著提升运算效率；

采用128*128高分辨率点阵液晶；

可达10000微米超宽测量范围；

可达1%超高精度；

大点阵液晶屏，标准化菜单操作；

超限红色背光报警；

屏幕旋转倒置功能；

两种测量模式：单次（Single)和连续(Continuous)；

两种组模式：直接组(DIR)和通用组(GEN),一个直接组和四个通用组，每组可存储500个数据；一共2000个数据。

可零校准，拥有全自动校准算法，省去人工反复校准；

用户可随时查看当前工作组已测得的数据，并删除指定数据或整组数据；

实时显示当前工作组统计值：平均值(Mean),最小值(Min)，值(Max),标准方差(Sdev)；

三种探头模式: 自动(Auto)、磁感应(Magnetic)和涡流(Eddy Current)；

可为各组单独设置高低限报警值，超限时屏幕指示报警；

可开启或关闭自动关机功能；

USB接口可传输通用组数据到计算机；

低电和错误提示；

适合恶劣条件使用；

三、应用场景

本仪器能无损伤、快速、精密地进行涂、镀层厚度的测量。它能广泛应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域，是材料表面处理工程必备的仪器。它可以稳定地工作于实验室、车间现场和户外。

四、产品描述

EC-770X涂层测厚仪，能同时测量磁性基材表面（如钢、铁等）的非磁性涂镀层（如油漆、陶瓷、铬等），以及非磁性金属基材表面的非导电涂镀层（如油漆等）。本仪表内置高精密双探头，利用电磁感应和涡流效应，全自动探测基材属性，计算涂镀层厚度，并通过点阵液晶快速显示结果。同时，测量数据可分组保存，并实时显示统计值。用户可分别为每组设置上下限报警值、零校准。全新的零校准，让您非常方便的随时进行校准。标准化菜单，确保您非常容易的使用它。

五、技术指标

1.       测量原理：磁感应（F探头）；涡流效应（N探头）；

2.       测量范围：F:0~5000um；N:3000um

3.       测量精度（典型值）：± (读数的2%+1um)；

4.       分辨率：0um~99um(0.1um), 100um~999um (1um), 1000um~1300um (0.01mm)；

5.       校准：零点校准;

6.       数据存储与分组：一个直接组（数据不保存）和四个通用组（数据可被保存），每组有单独的统计，报警上下限设置和校准设置；

7.       统计值：支持平均值、最小值、值和标准方差；

8.       支持单位：um, mm, mils；

9.       报警：用户可设置上下报警限，当发生报警时，液晶屏幕可显示提示；

10.   最小曲率半径：凸5mm，凹25mm；

11.   最小测量面积：直径20mm；

12.   最小基材厚度：0.2mm（F探头）；0.05mm（N探头）；

13.   电源：两节1.5V AAA电池；

14.   操作温度：0~40℃；

15.   保存温度：--20℃ to 70℃；

16.   尺寸：110mm*53mm*24mm；

17.   重量：92g；

六、型号对比