是一款使用方便，结构紧凑，久经实地验证的台式能量色散 X 射线荧光 (XRF) 测厚仪，可方便测量各种金属镀层的厚度。台式能量色散 X 射线荧光 (XRF) 系统，可测量各种金属镀层的厚度。采用能量色散 X 射线荧光的测厚仪具有许多优点：操作简便，不必制备样品，检测过程不涉及任何危险性化学品，不必测量样品的重量或体积，可快速分析等。
可方便测量各种金属镀层的厚度，单层电镀或多层电镀的方式组合厚度。
~ X射线发生系统采用了微焦光导管
由于采用了X射线聚光导管方式，可得到普通管十倍以上的X射线能量，从而可以提高微小样品的膜厚测量的精度。
~ 镀层厚度测量仪无需液氮的半导体检测器
在进行薄膜测量与分析时，高分辨率的检测器是必不可少的,不但可以达到高分辨率，而且可以实现高计数率。同时，由于使用了电子冷却方式，所以无需液氮。
~ 能谱匹配软件
可瞬间识别未知样品与事先存档的X射线能谱库中哪一个样品较为接近的软件。对识别材料十分有效。
~输出报告编辑软件
将元素面分析的结果进行等高线和色彩使用等视觉处理的软件。