日置 HIOKI IM7585 阻抗分析仪
特征
高速、高稳定性测量，提高生产量！测量时间：最快0.5ms，测量值偏差0.07%
测量频率：1MHz~1.3GHz
测量时间：最快0.5ms（模拟测量时间）
测量值偏差：0.07%（测量频率1GHz时的代表值）
基本精度：±0.65% rdg.
紧凑主机仅机架一半大小，测试头仅手掌大小
丰富的接触检查功能（DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定）
使用分析功能在扫描测量频率、测量信号电平的同时进行测量
描述
主机不带测试治具。需要使用阻抗分析仪专用的测试治具。
阻抗分析仪IM7580s：等效电路分析功能
能够以测量结果为基础推测5种等效电路模式的常数。 而且，可以通过模拟功能，使用推测结果或者任意的常数来显示频率特性的理想值。 此外，使用比较器功能，还能够确定测量结果是否在判定区域内。
阻抗分析仪IM7580系列：使用SMD治具IM9201进行LCR测量
IM7580系列5种机型的测量频率覆盖了1MHz3GHz。
和用于6种尺寸SMD的测试治具IM9201组合使用，能够简单准确的测量样品。
阻抗分析仪IM7580系列：区域判定功能
分析模式的比较器功能中，可以确定测量值是否进入了任意设置的判定区域内。 “区域判定功能”是设置上限值和下限值的范围，并以IN/NG来显示判定结果。
阻抗分析仪IM7580系列：峰值判定功能
分析模式的比较器功能中，可以确定测量值是否进入了任意设置的判定区域内。
“峰值判定功能”是以上限值、下限值、左限制、右限值来设置范围，并以IN/NG来显示测量的峰值是否在判定区域内。