Agilent HP4155B半导体参数分析仪

Agilent HP4155B半导体参数分析仪Agilent /HP4155C  蒋S

Agilent 4155B是新一代精密半导体器件参数分析仪。它拥有*佳的数字扫描参数分析仪，可靠的测试仪，强有力的故障，分析工具，自动检查设施；幸免综合至同参仪器中。
新产品的设计目标清楚地瞄准为亚微米几何尺寸器件评估提供前所未见的精度和功能。它是一种可灵活使用的仪器，无疑对从材料评价至器件性牟的表征，乃至*后封装等各个阶段的部分检查和现场故障分析可提供诸多应用，以改进半导体器件的质量。