阻抗 增益—相位分析仪 HP4194A LCR测试

HP 4194A阻抗/增益—相位分析仪是对元件和电路进行有效的测量、分析或合格/不合格测试的综合性解决方案。它可又快又方便地评估和测试各种阻抗特性和传输特性，包括二次参数的导出。HP 4194A可提高工作效率并节省测试费用，分析仪无论在阻抗还是传输的测量上均很灵活且有广泛的测量功能。它还用自动顺序编程（ASP）来现实完全可程控。通过存入面板上的键入操作，就能对所希望的测量和计算（包括图形分析）进行简单编程，从而使你能自定义测量、计算和分析功能。HP 4194A还具备高精度和误差消除功能，以保证可靠的测量。
特点：
· 宽的阻抗测量范围：100Hz~40MHz，10mΩ~100mΩ,用HP 4194A/B 时为
10kHz~100MHz,0.1Ω~1MΩ
· 增益—位测量
· 10Hz~100MHz，-107dBm~+15dBm,0.1dB分辨率
· 灵活的测量，计算和分析功能，彩色图形显示
· 完全可程控
· 宽范围的精确测量
· 快速分析
· 等效电路分析功能
· 自动顺序编程（ASP）
· 用HP 4194A/B阻抗探头配件增加功能
技术指标
阻抗测量
· 测量参数：|Z|、|Y|、θ、R、X、G、B、L、C、D、Q可提供12种参数组合
· 测试频率：100Hz~40MHz（电缆长度：0m)
· 振汇器电平：10mV~1Vrms(≤10MHz),10mV~0.5Vrms(>10MHz);(UNKNOWN端开路），3位分辨率
· 直流偏置：0~±40V，10mV分辨率
· 测量终端：4端对配置
· 测量范围和高分辨率