粒度仪分为三类： 纳米粒度仪，激光粒度仪和单颗粒光阻法粒度仪。从激光器发出的激光束经显微镜聚焦、针孔滤波和准直镜准直后，变成直径约 mm的平行光束，该光束照射到待测的颗粒上，一部分光被散射，散射光经傅里叶透镜后，照射到广电探测器阵列上
粒度仪是用物理的办法测试固体颗粒的大小和散布的一种仪器。根据测试本理的差别分为沉降式粒度仪、沉降天平、激光粒度仪、光学颗粒计数器、电阻式颗粒计数器、颗粒图像阐发仪等。 也可以创建用户定义的规则，它可以由客户或内部规章实现
接纳MIE散射本理的激光粒度仪由自主研发的会聚光傅立叶变更光路和无约束#拟合是数据处置软件构成，可检测颗粒大小及散布，覆盖了毫米、微米、亚微米及纳米多个波段。导体激光器的优点是体积小、重量轻、可靠性高、使用寿命长、功耗低，此外半导体激光器是采用低电压恒流供电方式，电源故障率低、使用安全，维修成本低等
其测试颗粒大小及散布时接纳的分离系统根据差别的测试要求分为湿法分离系统、干法分离系统和干湿一体分离系统。
当光线映照到颗粒上时会发作散射、衍射，其衍射、散射光强度均取粒子的大小有关。不雅测其光强度，可应Fraunhofer 衍射理论和Mie 散射理论求得粒子径散布(激光衍射/ 散射法)，使用Mie 散射理论停止计较。光入射到球形粒子时可发生三类光：#类，正在粒子外表、通过粒子内部、经粒子内外表的反射光；第二类，通过粒子内部而合射出的光；第三类，正在外表的衍射光。那些现象取粒子的大小无关，全都能够做为光散射处置。激光法与图像法结合技术，折射率测量技术，这两项技术在世界范围内也是ling先前沿的技术
一般地，光散射现象能够用经Maxwell 电磁方程式严密解出的Mie 散射理论说明。但是，实际使用起来过于复纯，为了求得实际的光强度，可根据入射波长λ和粒子半径r 的关系，即：r<λ时，Rayleigh 散射理论；r>λ时，Fraunhofer 衍射理论。正在使用上述理论时，应考虑到光的波长和粒径的关系，正在差别的范畴使用差别的理论。 函数法：用数学函数表示粒度分布的方法
jsgfjcg
无需改换透镜及辅助其它办法就可丈量从几十纳米到几千微米的颗粒，即便是干法丈量，其下限也可到达.微米