可靠性试验中的寿命试验是在实验室条件下，模拟实际工作状况而进行的试验。虽然这种模拟尚存在着一定的近似性，但试验结果却有很大的参考价值。这种试验不但可以用来考核零部件及结构的可靠性、材料以及制造工艺的合理性，还可以鉴定和改进产品的质量。
1.试验条件
微电路的寿命试验分稳态寿命试验、间歇寿命试验和模拟寿命试验。
2.稳态寿命试验
微电路必须进行的试验，试验时要求被试样品要施加适当的电源，使其处于正常的工作状态。国家军用标准的稳态寿命试验环境温度为125℃，时间为l000h。加速试验可以提高温度，缩短时间。
3.间歇寿命试验
要求以一定的频率对被试微电路切断或突然施加偏压和信号，其它试验条件与稳态寿命试验相同。
4.模拟寿命试验
是一种模拟徽电路应用环境的组合试验。它的组合应力有机械、湿度和低气压四应力试验：机械、温度、湿度和电四应力试验等。
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