HSAT非饱和高压加速老化试验箱用于调查分析何时出现电子元器件的摩耗和使用寿命的问题，使用寿命的故障分布函数呈什么样的形状，以及分析失效率上升的原因所进行的试验。
电子元器件HSAT非饱和高压加速老化试验箱超强安全保护装置
误操作安全装置：高压加速老化试验机锅门若未关紧则机器无法启动；
超压安全保护：当锅内压力超过工作值自动排气泄压；
超温保护：当锅内温度过高时机器鸣叫警报并自动切断加热电源；
防烫伤保护：特制材质制成可防止操作人员接触烫伤；
手动安全保护排压伐。
技术参数：
温度范围：A(105℃～132℃)；B(105℃～142.9℃)；C(105℃～155℃)可选
压力范围：A(压力表+0.2～2.0kg/cm)；B(压力表+0.2～3.0kg/cm)；C(压力表+0.2～3.5kg/cm)
湿度范围：65%～100%R.H(可调)
温湿度波动度：非饱和控制：±0.5℃/±2.5%R.H，湿润饱和控制：±0.5℃/100%R.H
温湿度均匀度：±0.5℃/±5%R.H
分辨率：温度：0.1℃，湿度：0.1%R.H，压力：0.1kg/cm²
偏压端子：标配8条（8～55条可选）
加压时间：约45min
东莞瑞凯仪器HSAT老化箱技术创新
优化设计,美观大方，做工精细。
对应IEC条件，具有直接测量箱内温湿度的干、湿球温度传感器。
采用7寸真彩式触摸屏，拥有250组12500段程序，具有USB曲线数据功能，RS-485通讯接口。
采用高效真空泵，使箱内达到纯净饱和蒸汽状态。
具有缓降压、排气、排水功能，控制避免试验结束后压力温度的急变，保证试验结果的正确。
多项安全保护措施,故障报警显示及故障原因和排除方法功能显示。
HAST非饱和高压加速试验箱可根据客户产品定制专用产品架。