关于IEC 61215的更新内容-序列内容变更
在老版本61215基础上补充及变更了一些测试内容，具体的内容将做分别的罗列和介绍。
由于测试序列的变更，老标准整套测试只需要8片组件，而新标准增加至10片。
在组件初始外观检查与功率测试之间，增加了初始化处理步骤，晶硅组件为预处理，而薄膜组件不需要进行，此部分取代了老版本中的预处理环节。
参考组件由此前的1片增加至3片
原有的NOCT/OD 等所在的序列测试由原有的一个序列拆分成两个序列。分为序列A及序列B，其中序列A 3片组件(与参考组件重叠)，分别按顺序进行温度系数测试-STC测试-NMOT性能-低辐照度性能。序列B1片组件，分别进行NMOT及户外暴晒试验-旁路二极管测试-始终化处理(晶硅组件不需要，薄膜组件为光衰处理)