广电计量失效分析实验室AEC-Q技术团队，执行过大量的AEC-Q测试案例，积累了丰富的认证试验经验，可为您提供更专业、更可靠的AEC-Q认证试验服务。
IC作为重要的车载元器件部件，是AEC委员会持续关注的重点领域。AEC-Q100对IC的可靠性测试可细分为加速环境应力可靠性、加速寿命模拟可靠性、封装可靠性、晶圆制程可靠性、电学参数验证、缺陷筛查、包装完整性试验，且需要根据器件所能承受的温度等级选择测试条件。需要注意的是，第三方难以独立完成AEC-Q100的验证，需要晶圆供应商、封测厂配合完成，这更加考验对认证试验的整体把控能力。广电计量将根据客户的要求，依据标准对客户的IC进行评估，出具合理的认证方案，从而助力IC的可靠性认证。
测试周期：
3-4个月，提供全面的认证计划、测试等服务
产品范围：
集成电路(IC)
设备能力
环境、应力筛选主要设备能力:
高低温试验箱-热循环试验
热冲击试验箱-热冲击试验
振动台-机械振动试验
恒定加速度试验台-恒定加速度试验
可编程电源-电压、功率老炼试验
电子负载-电流、功率老炼
频率发生器-老炼试验
浪涌发生器-浪涌试验
高温真空箱
电测试主要设备能力:
阻抗分析仪
高阻计
耐压测试仪
半导体参数分析仪
高精度图示仪
可编程电源
电子负载
示波器
频谱分析仪
数字/模拟集成电路测试机台
检测设备:
颗粒碰撞噪声测试仪
氦质谱检漏仪
碳氟化合物粗检漏仪
键合拉力测试仪