改进创新
从第一次检测开始直到第一百次检测， Vanta 分析仪每次都能为用户提供
相同的精确结果。
Vanta 系列分析仪所特有的 Axon 技术， 使用超低噪声电子设备， 在每秒
钟之内可达到更高的 X 射线计数率， 从而可以更快的速度获得精确的、 重复
性非常高的结果。
由于 Vanta 分析仪将 Axon 技术与新款四核处理器结合在一起使用， 因而
这款分析仪具有非同寻常的响应能力， 在操作性能上达到新的突破， 可使用
户在短时间内获得更值得信赖的分析结果。 Axon 技术可使不同 Vanta 仪器的
各次检测都具有非同一般的高重复性能， 因此无论用户使用的是哪台仪器，
其第一次检测与其最后一次检测都会是相同的。
Vanta XRF 分析仪可以有效地用于对多种类型矿物沉积物的探测分析.
其中包括：
• 基质金属， 如： 铜、 铅、 锌、 银和钼
• 金， 包含对探途元素和岩石地球化学成分的分析
• 铀 +/- 稀土元素和探途元素
• 硫化镍和红土型镍矿床
• 铁矿石和铝矾土
• 稀土元素（REE） ， 如： 镧、 铈、 镨和钕
• 稀土探途元素， 包含钇、 钍和铌
• 磷酸盐、 碳酸钾、 石灰石、 菱镁矿， 以及其它工业矿物
• 浅成热液的锡、 钨、 钼、 铋和锑矿床
• 矿砂， 如： 钛和锆
• 煤、 石油和天然气， 通过泥浆录井方式和对痕量元素化学成分的分析进行探测
可检测元素： 可用于矿石、 土壤环境中
VANTA VLW 手持式 XRF 分析仪可测： Ti 钛, V 钒, Cr 铬, Mn 锰, Fe 铁, Co 钴, Ni 镍,
Cu 铜, Zn 锌, As 砷, Se 硒, Rb 铷, Sr 锶, Zr 锆, Nb 铌, Mo 钼, Ag 银, Cd 镉, Sn
锡, Sb 锑, W 钨, ,Pb 铅, Bi 铋, Th 钍, Hg 汞, U 铀,Ta 钽 等元素；
VANTA VCA 手持式 XRF 分析仪可测： S 硫, Ca 钙, Ti 钛, V 钒, Cr 铬, Mn 锰, Fe 铁,
Co 钴, Ni 镍, Cu 铜, Zn 锌, As 砷, Se 硒, Rb 铷, Sr 锶, Zr 锆, Nb 铌, Mo 钼, Ag
银, Cd 镉, Sn 锡, Sb 锑, W 钨, ,Pb 铅, Bi 铋, Th 钍, Hg 汞, U 铀,Ta 钽, Mg 镁, Al
铝, Si 硅, P 磷, Y 钇, 等元素。
Vanta 的技术规格
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外型尺寸 （ 宽 × 高 × 厚） |
8.3 × 28.9 × 24.2 cm |
| 重量 | 带电池时 1.70 公斤； 不带电池时 1.48 公斤。 |
| 激励源 |
4 瓦特 X 射线管， 其根据不同应用而优化的阳极材料包括铑（ Rh） 银（ Ag） 和钨（ W） 。 M 系列（ Rh 和 W） 和 C 系列（ Ag） ： 8 ～ 50 kV C 系列（ Rh 和 W） ： 8 ～ 40 kV |
| 主光束过滤 | 每个模式每条光束有 8 个位置的自动选择过滤器。 |
| 探测器 |
M 系列： 大区域硅漂移探测器 C 系列： 硅漂移探测器 |
| 电源 |
可拆装的 14.4 V 锂离子电池或 18 V 电源变压器， 100 ～ 240 VAC， 50 ～ 60 Hz, 70 W |
| 显示 | 800 × 480 (WVGA)液晶电容式触摸屏， 可使用手指进行控制 |
| 操作环境 |
温度： – 10 ° C ～ 50 ° C（ 带可选风扇时， 可连续工作） 。 湿度： 相对湿度为 10 % ～ 90 %， 无冷凝。 |
| 坠落测试 | 通过了美军标准 810-G 的 1.3 米高坠落测试。 |
| IP 评级 | IP65*： 防尘， 而且可防止来自各个方向的水喷。 |
| 压力校正 | 内置气压计， 用于海拔和空气密度的自动校正。 |
| GPS | 嵌入式 GPS/GLONASS 接收器 |
| 操作系统 | Linux |
| 数据存储 | 4 GB 嵌入存储， 带有 microSD 卡插槽， 可扩展存储容量。 |
| USB |
两个 USB 2.0 A 型主端口， 用于诸如 Wireless LAN、 蓝牙和 USB 闪存驱动盘等配件。 一个 USB 2.0 袖珍 B 型端口， 用于连接计算机。 |
| Wireless LAN | 通过可选购 USB 适配器， 支持 802.11 b/g/n（ 2.4 GHz） 。 |
| 蓝牙 | 通过可选购 USB 适配器， 支持蓝牙和蓝牙低能功能。 |
| 瞄准摄像头 | 全 VGA CMOS 摄像头 |
| 全景摄像头 | 5 百万像素 CMOS 摄像头， 带自动聚焦透镜。 |
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