高温储存寿命实验目的 为了考核高温对试样的影响，确定试样在高温条件下存储的适应性。该实验一般用到高低温 试验箱。 实验原理 电子元器件在高温环境中，其冷却条件恶化，散热困难，将使器件的电参数发生明显变化或 绝缘性下降。使电子元器件处于高温下一定时间,考核电子元器件的外观与电参数是否发生变 化，从而确定电子元器件的抗高温能力。 实验测试标准：AEC-Q100-Rev-HA6
测试实验室：广州市优耐检测技术有限公司
报价：面议
地址：广东,广州,广州市番禺区大龙街道竹山工业路47-3
公司：广州市优耐检测技术有限公司
手机：15527070279
微信：unixiaoli15527070279
用户等级：普通会员 已认证
提醒：联系时请说明是从志趣网看到的。