X射线荧光（XRF）仪器的工作原理是对被测样品发射一束一次X射线，样品的原子吸收X射线的能量后被激发并释放出二次X射线。每个化学元素会释放出特定能量的X射线。通过测量这些释放出的二次X射线的特征能量和强度，X射线分析仪就能够对被测材料的镀层厚度和成份提供定性和定量的分析。
Bowman由建立CMI International的技术团队创立，并成功发展公司，成为XRF电镀测量行业备受尊敬的领导者。 Bowman团队为客户提供了超过三十年的涂层厚度测量和元素分析行业综合经验的优势。博曼致力于提供前沿的分析解决方案，来满足全球制造企业、电镀企业和经销商，所有产品产于美国。目前，在全球四，优质的服务和支持团队为品质保驾护航。