董光射线装置(XRF)测量膜厚试验方法:
x射线的能量穿过金属镀层的同时，金属元素其电子会反射其稳定的能量波谱。通过这样的原理，我们设计出:膜厚测试仪也可称为膜厚测量仪，又称金属涂镀层厚度测量仪，其不同之处为其即是薄膜厚度测试仪，也是薄膜表层金属元素分析仪。
射线衍射装置(XRD)测量膜厚试验方法:
简单地说黄光射线装器(XRF)和射线衍射装(XRD)有何不同,黄光射线装器(XRE)能得到某质中的元素信息(物质构成,组成和镀其厚度)x射线衍射装置(XRD)能得到某物质中的结晶信息。
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