我公司专业提供金属镀层厚度测试
X-ray方法:
射线光谱方法测定薄盖同厚度是基干一束强烈而狭窄的多色x射线与基体和覆盖的相互作用。此相互作用产生离散波长和能量的二次辐射，这些一次辐射具有构成落盖层和基体元素特征。盖层单位面积质量(若密度已知，则为覆盖三线性厚度)和二次辐射强度之间存在一定的关系。该关系首先由已知单位面积质量的覆盖层校正标准块校正确定。若覆盖层材料的密度已知，同时又给出实际的密度，则这样的标准块就能给出覆盖层线性厚度。适用于测定电镀及电子线路板等行业需要分析的金属覆盖层厚度。包括:金(Au)，银(Ag)，锡(Sn)，铜(Cu)，镍(Ni)，铬(Cr)等金属元素厚度。