X射线荧光法测试实验原理概述：xrf测试方法原理为当来自x射线管具有足够能量的初级x射线与试样中的原子发生碰撞，并从该原子中逐出一个内层电子时，就在此轨道层就形成一个空穴，随后由较外层轨道的一个电子跃迁来填充此空穴，同时发射出二次x射线光电子，即荧光x射线。光子的能量等于完成两个轨道之间跃迁的能量差，即该原子的特征x射线。通过探测该元素特征x射线是否存在，可以进行定性分析该元素的存在，而根据其强度的大小可做定量分析。
x射线荧光光谱法是一种测量样品产生的x射线荧光强度，然后与标准样品的x射线强度进行对比的比较方法。x射线荧光光谱仪均带有基本参数法分析软件，用户无需制备标准样品即可直接进行分析。该方法能够进行最多5层镀层的多镀层样品测量，具备测量快速的特点，可以在一分钟内完成单点测量。
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