一. 功能简介
可控硅动态关断时间测试设备的基本原理是在一个工频半周内对被测元件施加半波电流，电流的平均值由元件的额定电流值决定，而在另一个半周内施加正向或反向的正弦半波阻断电压，测量它的动态阻断伏安特性，它模拟了元件在整流电路中的工作情况。
可控硅动态关断时间测试设备是对元件的通态电流能力、阻断电压能力的一种综合测试，已被国内广大用户所接受。
本试验台可对器件的室温特性及正向压降等几个参数进行测试，试验台在试验时，可根据需要对试验时间进行设定，试验台有平均漏电流显示，并具有保护功能。
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技术条件：
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适用范围：
本电源适用于300A以下的模块型整流二极管及模块型晶闸管的性能考核。本实验台的测试方法参照原行业全动态测试方法。
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动态测试的技术指标：
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平均电流ITAV： 低档：约20—50A 精度±5% 分辨率1A
gaodang： 约50—300A 精度±5% 分辨率1A
指针表显示
电流波形为近似正选半波，导通角170°左右
阻断电压波形为底宽10mS的正弦半波
电流调节：手动调压器
2） 平均压降：VTAV=0.1—2.5V 精度±3% 分辨率0.01 V
指针表显示
3） 正反向不重复峰值电压：200—3000V 精度±5% 分辨率10V
4） 正反向峰值漏电流IDRM、IRRM：0.1-20 mA
精度±3%，分辨率0.01
保护漏电流1-20 mA
峰值阻断电压、电流为数字表显示
阻断电压为手动调节
5） 测试频率：50HZ
6） 伏安特性具有过流保护及过流指示。
7） 电源主电路开关器件采用水冷却，保证动态考核的准确性。
8） 连接被测方式：手动连接
(,北京半导体器件检测)
