高端博曼BOWMAN毛细管机型膜厚仪,也叫镀层测厚仪,目前极小光斑7.5UM,15UM,80UM产品,精度在1%,测量时间1秒,可轻松测量,减少了大量的工作时间和促进了工作效率,解决了业内无法达到的精度。它搭载高端SDD探测器,可实现极小的测量斑点,尤其适合ENIG,ENEPIG以及化学镍的%P含量的分析。主要应用在线路板小部位的镀层,半导体,晶圆,引线框架等高精密产品的镀层厚度,还有汽车行业纳米层。
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