Keysight N7788C 光器件分析仪 回收

Keysight N7788C 光器件分析仪 回收

Keysight N7788C 结合了偏振计和偏振控制器，适用于灵活的实验室使用，以及使用是德科技可调谐激光器的单扫描算法对光学元件和光纤进行快速光谱 DGD/PMD 和 PDL 测量。

单次扫描中的高精度。无需进行多次扫描并计算平均值

对元器件的光路径长度没有限制

1240 nm 至 1650 nm 工作波长范围

1 MHz 大采样率

0 ps 至 1000 ps DGD 测量范围

0 ps 至 300 ps PMD 测量范围

1.5° SOP 测量不确定度

±2% DOP 测量不确定度

N7788C 光器件分析仪可在一台仪器中同时提供偏振控制和分析功能，因而能够在实验室中灵活使用。尤其是，N7788C 能够与可调谐激光源结合使用，测量光元器件如何改变信号的 SOP。该测量以广义标准琼斯矩阵本征分析法（JME）为基础，使用独特的单次扫描偏振相关方法来确定参数偏振模色散（PMD）或差分群时延（DGD）以及偏振相关损耗（PDL）。

N7788C 与可调谐激光源和新的 N7700 软件引擎结合使用，能够对这些偏振相关损耗和色散进行光谱测量。

可提供的测量参数包括：

DGD/PMD

PDL

功率/损耗

TE/TM 损耗

琼斯矩阵

米勒矩阵

二阶 PMD（去偏振 + PCD）

内置用户界面支持 N7788C 的通用偏振计和偏振控制功能。