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CP200国产台阶膜厚仪

  • 发布时间:2023-11-13 15:16:05
    报价:面议
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    CP200国产台阶膜厚仪是利用光学干涉原理,可以对微米和纳米结构进行膜厚和薄膜高度、表面形貌、表面波纹和表面粗糙度等的测量。是一种接触式表面形貌测量仪器。

    CP系列台阶仪广泛应用于:大学、研究实验室和研究所、半导体和化合物半导体、高亮度LED、太阳能、MEMS微机电、触摸屏、汽车、医疗设备等行业领域。如在太阳能光伏行业中,通过测量膜层表面的台阶高度来计算出膜层的厚度,具有测量精度高、测量速度快、适用范围广等优点。它可以测量各种材料的膜层厚度,包括金属、陶瓷、塑料等。

    产品特性

    1.出色的重复性和再现性,满足被测件测量精度要求

    线性可变差动电容传感器(LVDC),具有亚埃级分辨率,13um量程下可达0.01埃。高信噪比和低线性误差,使得产品能够扫描到几纳米至几百微米台阶的形貌特征。

    2.超微力恒力传感器:(1-50)mg可调

    测力恒定可调,以适应硬质或软质材料表面。超低惯量设计和微小电磁力控制,实现无接触损伤的精准接触式测量。

    3.超平扫描平台

    系统配有超高直线度导轨,杜绝运动中的细微抖动,提高扫描精度,真实反映工件微小形貌。

    4.顶视光学导航系统,5MP超高分辨率彩色相机

    5.全自动XY载物台, Z轴自动升降、360°全自动θ转台

    6.强大的数据采集和分析系统

    台阶仪软件包含多个模块,为对不同被测件的高度测量及分析评价提供充分支持。

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    CP200国产台阶膜厚仪对测量工件的表面反光特性、材料种类、材料硬度都没有特别要求,样品适应面广,数据复现性高、测量稳定、便捷、高效,是微观表面测量中使用非常广泛的微纳样品测量手段。

    如有疑问或需要更多详细信息,请随时联系中图仪器咨询。

    CP200国产台阶膜厚仪

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