特性如下： 半导体器件全自动、高速直流测试； 具有高分辨率、宽测量范围：I: 1pA - 100mA, V: 1mV - 100V ；
分辨率1150； 内置微型软盘，可存储240个用户程序或105个测试结果。
HP4145B产品简介
产品名称：半导体参数分析仪
产品型号：HP4145B
产品品牌：美国惠普/HP
HP4145B半导体参数分析仪设计用于半导体的生产线和实验室，HP4145B是电子工业中第一个可以独立对半导体器件和材料进行直流参数的仪器。
HP4145B通过对器件加电压，测电流，HP4145B或加电流测电压并将测试结果显示在内置的CRT显示器上，结果可根据用户需要显示为图形、表格、矩阵等等。