半导体曲线图示仪CS-3100
适用于IGBT、MOSFET、三极管、二极管等各种半导体特性测试的标准型号
适用于IGBT、MOSFET、三极管、二极管等各种半导体特性测试的标准型号
峰值电压3,000V（高压模式）
峰值电流1,000A（HC脉冲模式）
LEAKAGE模式（游标分辨率 1pA）
简单易用，追求人性化的先进功能
Graphical configuration screen
采用电路图模式显示内部的配线状态
可通过确认实际波形，适时调整脉宽和测试点。
Vbe and Ic waveforms in the large current pulse mode (Wave mode)
具有能确认实际印加电流/电压波形的Wave模式
可以像示波器一样通过观测模块上实际印加的波形 （电流、电压）来确定脉宽和实际测试点 （MEASUREMENT POINT）。
可通过确认实际波形，适时调整脉宽和测试点。
避免了示波器的探棒影响，可确认到实时的异常信号。
可非常容易地确认到模块发热等引起的振荡等热异常情况。
S-3000系列规格
集电极电源 HV模式
机型 CS-3000系列共通
模式/极性 全波整流/+－、DC/+－、LEAKAGE/+－、AC
峰值
电压/电流
峰值电压 峰值电流（峰值脉冲电流）
3kV 75mA（150mA）
300V 750mA（1.5A）
30V
7.5A（15A）
峰值功率 120mW / 1.2W / 120W/ 390W（峰值电压3kV时不能使用）
水平轴量程 50mV～500V/div
集电极电源 HC模式 （CS-3100无HC模式）
测试台：CS-301
模式 内容
波形补偿 硬件 对集电极电源与接地间的浮动电容进行补偿
软件 通过软件的细线化处理功能进行波形补偿
阶梯信号发生器 偏移 设定范围
分辨 STEP AMPLITUDE设定的-10倍～+10倍
STEP AMPLITUDE设定的1%
电流模式 振幅量程
电流
电 1步进约50nA～200mA、21段 1-2-5切换
2A
10V以上
电压模式 振幅量程
电流
电压 １步进约50mV～2V、6段 1-2-5切换
±40V
500mA～ （～8V）、200mA～ （～15V）、10mA～ （～40V）
步进周期 50Hz或60Hz的2倍（AC模式下为1倍）、HC模式时为脉冲间隔
脉冲・步进 脉宽 50μs～400μs （10μs步进）
HC模式时为相对于集电极电源脉冲前后100μs的脉宽
步进数 0～20段
AUX出力 量程 OFF、－40V～+40V （100mV步进可调）
测试模式 REPEAT、STOP/SINGLE、SWEEP
垂直轴
（全量程0div） 集电极电流 量程 HV模式：1μA/div～2A/div、20步进 1-2-5切换 （HC模式另行规定））
精度 读数的2%+0.05×VERT/div
加上以下峰值电压的波形补偿误差
0.5μA （30V）、1μA （300V）、6μA （3kV）、12μA （5kV）
30V,300V,3kV峰值电压的10%以上、5kV为30%以上
发射极电流
（LEAKAGE） 量程 1nA/div～2mA/div、20步进 1-2-5切换
（集电极电源模式为LEAKAGE）
精度 读数的2%+0.05×VERT/div+1nA以下
水平轴 （全量程10div） 集电极电压 量程 HC模式：50mV/div～5V/div、7步进 1-2-5切换（HV模式另行规定）
精度 读数的2%+0.05×HORIZ/div以下
栅漏电压 量程 50mV/div～5V/div、7步进 1-2-5切换
精度 读数的2%+0.05×HORIZ/div以下
显示 显示器 8.4英寸 TFT液晶显示器
数据数 1,000点/曲线（AC、全波整流）
20～1,000点/曲线 （SWEEP模式）
曲线显示 连线、点线
平均数 OFF、2～255次
长度 OFF、SHORT、LONG、无限长
内部波形保存（REF） ４画面
游标测试 DOT Vert、Horiz、β或gm
fLINE Vert、Horiz、1/grad, intercept
FREE Vert、Horiz、β或gm
WINDOW WINDOW区域的Vert、Horiz、β 或gm
数据保存/读取 内部存储 设置参数：256个、REF：4画面
外部存储 USB1.1：设置参数、波形、画面复制（BMP、TIFF、PNG）
远程控制 由LAN连接远程控制 10BASE-T/100BASE-TX 1端口
电源 CS-3xxx AC100-240V 50/60Hz 、工作时功率：500VA、待机时：7W Max
外形尺寸(mm)
（不含突出部、附属品）
质量 （不含附属品） CS-3100 424W x 220H x 555D、约28kg
