NEW 阻抗分析仪ZA57630
从电子零件、半导体器件到材料的特性评价，应对多样的阻抗测量需求
基本精度 ±0.08%
频率范围 10 µHz～36 MHz
阻抗范围 10 µΩ～100 GΩ (模式: IMPD-EXT)
阻抗分析仪
NEW 阻抗分析仪ZA57630
“True Value”
测量真正的特性。
ZA57630
ZA57630
从电子零件、半导体器件到材料的特性评价，应对多样的阻抗测量需求
基本精度
频率范围
阻抗范围
测量 AC 信号级别
DC 偏置
测量时间
测量参数
±0.08%
10 µHz～36 MHz
10 µΩ～100 GΩ (模式: IMPD-EXT)
0.01 mVrms～3 Vrms
0.1 µArms～60 mArms
−5 V ～ +5 V/−40 V ～ +40 V (1 kHz以上)
100 mA ～ +100 mA
0.5 ms/point
Z, R, X, Y, G, B, Ls, Lp, Cs, Cp, Rs, Rp, θz, θy, D, Dε, Dµ,
Q, V, I, εs, εs’, εs”,µs, µs’, µs”, FREQUENCY
快速测量 业界最快 0.5 ms/point
实现了业界最快的0.5ms/point。
缩短生产线的节拍时间，提高测量作业的效率。
此外，通过增加设定的测量时间，使测量结果平均化，减轻噪声的影响。可视需要选择最合适的测量时间。img01
4种测量模式 应对广泛的DUT
IMPD-3T
标准测量模式
本模式可以在广泛的频率范围内进行高精度测量。可使用测试线及测试夹具，应对各种形状的试样。img02
IMPD-2T
高频测量模式
本模式可以在 10MHz 以上的高频下进行稳定的测量。使用 N 型连接器进行 2 端子测量，即便配线长，也可以进行稳定的测量。img03
IMPD-EXT
外部扩展测量模式
本模式为外部连接放大器或分流电阻等物进行测量。
可以通过施加高压信号或检测微小电压 / 电流进行单独使用本仪器无法应对的测量。img04
G-PH
增益/相位测量模式
本模式可以测量滤波器、放大器等的传输特性。向被测电路施加扫描信号，高精度地测量其频率响应（增益、相位）。img05
正面面板测量端子
阻抗分析仪
NEW 阻抗分析仪ZA57630
特点
结合用途配备丰富的功能！
以最适合DUT特性的设定，支持高重现性且准确的测量。
准确的评价基于实际使用的操作条件。
电子零件、电子材料可能因测量频率及施加的信号级别而表现出不同的特性。电容器和电感器存在因寄生成分引发的频率依赖性，二极管等半导体器件由于 DC 偏置叠加而产生特性变化。
要评价真实的特性，重要的是频率、AC 振幅和 DC 偏置的扫频，在实际的操作条件下进行测量。
特点
扫频
延迟功能
标记操作
测量条件等的设定
自动高密度扫频
顺序测量
量程
误差校正
图表显示
丰富的功能
共振点跟踪测量
相对介电常数测量
外部基准时钟
等效电路估算
相对导磁率测量
存储器操作
压电常数计算
比较器 / 处理器接口
