Sphere-3000反射率测试仪
Sphere3000是一套波长显微球面光学元件光谱分析仪，能快速准确地测量各类球面/非球面器件的相对/反射率。适用于凸透镜、凹透镜、镜片等的镀膜反射率测量。还可进行有干涉条纹的单层膜厚或折射率测量。
技术参数
型号
Sphere-3000（I型）
Sphere-3000（III型）
检测范围
380~800nm
360~1100nm
波长分辨率
1nm
1nm
相对检测误差
﹤1%
﹤0.5%
测定方法
与标准物比较测定
被测物再现性
±0.1%以下(2σ) （380nm~410nm）
±0.05%以下(2σ) ， (410nm~800nm)
±0.1%以下(2σ)，(380nm~410nm) ；±0.05%以下(2σ) ，(410nm~1100nm)
单次测量时间
﹤1s
精度
0.3nm
被测物N.A.
0.12(使用10×对物镜时) 、 0.24(使用20×对物镜时)
被测物尺寸
直径>1mm
厚度>1mm(使用10×对物镜时)
厚度>0.5mm(使用20×对物镜时)
被测物
测定范围
约φ60μm(使用10×对物镜时) ； 约φ30μm(使用20×对物镜时)
设备重量
约15kg（光源内置）
设备尺寸
300(W)×550(D)×570(H)mm
使用环境
水平且无振动的场所
温度：23±5℃；
湿度：60％以下、无结露；
操作系统
Windows XP, Windows Vista，Win7
软件
分光反射率、物体颜色、单层膜厚（有干涉条纹）和镀膜（有干涉条纹）折射率测定
尺寸
480*400*580mm
Sphere3000反射率测试仪-特点：
显微测定微小领域的反射率 物镜对焦于被测物微小区域（φ60μm）
CIE颜色测定 X Y色度图，x, y, L, a, b, 饱和度，主波长等
检测速度快 高性能探测器，能在几秒内实现重现性高的测定
背面反射光 无需进行背面防反射处理即可快速准确地测定表面反射率
