ITC55100 ITC75100晶体管图示仪

ITC55100  ITC75100晶体管图示仪

ITC55100C 型号是一代的行业标准系列 ITC55100 测试仪。该系统是围绕一个非常强大的微控制器设计的，它的时序分辨率为40ns，比前代型号快20倍。其对峰值和零电流的响应时间提高了十倍。结合这一功能，可提高充电和雪崩时间以及报告的峰值排水电流的准确性。

ITC55100C 型号具有双极栅驱动器作为标准功能。用户可以设置高达 30V 的总栅极驱动器，并可以选择 30V 中有多少为正，有多少是负的。此功能可确保某些设备在雪崩期间保持状态。

ITC55100C 执行符合 MIL-STD-750E 方法 3470 的多种类型的测试。方法 3470 通过强调 P 通道和 N 通道 MOSFET 和 IGBT 到受控能量水平来测试它们的能力。这是通过驱动未夹紧的电感负载的设备实现的。

•单/双设备测试

• N 通道，P 通道，混合

• 所有固态开关 • 无继电器

• 40ns 的时序分辨率

• 电流范围：0.1A 至 200A，0.1A 步长

• 阿瓦兰奇电压至 2500V

• 双极栅驱动，带 30V 回转

• 新的高效开尔文电路

• 传统的 UIL 模式（通过 GPIB）

• 触摸屏程序输入/控制

• 波形捕获/显示

• 内部测试程序存储（20 个文件）

• 高速电感充电，缩短测试时间

• 可编程泄漏测试电压

• 阿瓦兰切前/后泄漏测试

• 阿瓦兰奇坍塌测试

• 多功能测试处理程序控制

• 多达 15 个硬件排序箱

• 提高电压/电流精度

• 通过闪存进行软件更新

• 参数输入的密码控制

• 使用所有 ITC 电感负载箱运行

• 与 ITC55MUX4 和 ITC55-RSF 的接口

• 简单、完整的用户校准

• 内置自检

ITC75100 是一种增强的未夹式电感负载 （UIL） 测试系统，它基于 ITC 行业领先的 ITC55 系列测试仪的成功，增加了额外的测试和测量能力。

ITC75100 对功率 MOSFET、IGBT 和二极管进行坚固性测试，这些测试符合 MIL-STD-750 方法 3470，通过强调它们达到受控的能量水平，由驱动未夹紧电感负载的设备完成。改进的测试规范允许完全控制测试参数。

特征

• 平板电脑用户界面，具有大显示屏和增强的数据处理能力

• 低电流和快速电流波形功能

• 用于 DUT 和接口保护的内部并行能量路径

• 使用本地栅极驱动器测量 POD

• 带 30V 总回转的主动栅极驱动

• 在测试前或测试后的指定延迟时间（高达 250μSec）之前，使用可编程电流源精确测量 Rdson 在指定电流级别下使用 Vf 杂物

• 单/双（需要两个 POD）设备测试

• 波形捕获/显示

• 测试处理程序控制和装箱

• 内置自检

• 对所有测试仪测量的简单用户校准