光电鼠标行走寿命试验机HK-SB-XZ
设备用途:
光电鼠标行走寿命试验机可模拟光电鼠标在一定荷重下行走之状况，通过计算监测，了解鼠标行走轨迹及寿命。
设备特点:
光电鼠标行走寿命试验机采用调速电机驱动、手动升降上盘，专用夹具设计，让你的工作跟简捷方便；
本试验机可同时测试3个鼠标，并备有三组导向孔，满足不同测试要求
设备技术参数:
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型号 |
HK-8536 |
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产品名称 |
光电鼠标行走寿命试验机 |
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同时测试试样 |
3pcs |
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试验荷重 |
100g±5g |
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测试速度 |
89～392mm/sec(可调) |
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测试行程 |
0～300KM（可设置） |
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体积 |
W600×D600×H550mm |
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重量 |
45kg |
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电源 |
AC220V,50Hz 5A 或指定 |