光学窗口片是光学系统的前置保护片，主要可用于CCD/CMOS芯片的封装、可拍照手机镜头上的保护、数码相机OVF的保护、激光二极管上的盖片等。   　　光学窗口片检测的基本原理   　　光学窗口片中的各种杂质，在光学特性上必然与光学窗口片本身有差异。当光线入射光学窗口片后，各种杂质会在反射、折射等方面表现出与周围光学窗口片不同的异样。例如，当均匀光垂直入射光学窗口片时，如光学窗口片中没有杂质，出射的方向不会发生改变，所探测到的光也是均匀的；当光学窗口片中含有杂质时，出射的光线就会发生变化，所探测到的图像也要随之改变。由于杂质的存在，在其周围就发生了应力集中及变形，在图像中也容易观察。若遇到光透射型缺陷（如裂纹、气泡等），光线在该缺陷位置会发生折射，光的强度比周围的要大，因而相机靶面上探测到的光也相应增强；若遇到光吸收型（如砂粒等）杂质，则该缺陷位置的光会变弱，相机靶面上探测到的光比周围的光要弱。分析相机采集到的图像信号的强弱变化、图像特征，便能获取相应的缺陷信息。   　　光学窗口片检测设备简介   　　光学窗口片检测设备是基于光学窗口片产品的生产现状，对现有劳动力密集的人工品质检测工艺环节进行自动化改造，通过研究设计一款光学窗口片表面品质自动化检测和分拣设备来替代人工检测。本项目研发设计内容主要由表面缺陷自动识别系统设计、物流传送系统及联动控制设计，正次品分拣机械手设计等三个部分组成。   　　通过该设备的成功实施预期能实现光学窗口片表面品质缺陷特征的自动识别、正次品自动分拣、检测精度达到10微米、检测速度到180片/分钟的目标。