可靠性试验-高加速寿命试验（HALT）

HALT(Highly Accelerated Life Test)高加速寿命试验：HALT是一种发现缺陷的工序，它通过设置逐级递增的加严的环境应力，来加速暴露试验样品的缺陷和薄弱点，而后对暴露的缺陷和故障从设计、工艺和用料等诸方面进行分析和改进，从而达到提升可靠性的目的，的特点是设置高于样品设计运行限的环境应力，从而使暴露故障的时间大大短于正常可靠性应力条件下的所需时间。
高加速寿命试验是在极短的时间内（通常是几小时或几天），对产品施加步进应力，直到产品失效，找出设计缺陷，并加以改进，以提高产品可靠性的试验过程。高加速寿命试验适用于发现设计缺陷，通常用于整个系统，但也可用于部件。当产品存在耗损机理时，不采用高 加速寿命试验。高加速寿命试验用于揭示产品设计和零件选择中的潜在缺陷，而这些缺陷通过传统的鉴定试验方法却难以发现。该过程是将对手试产品施加步进应力，包括环境应力（如温度和振动）、电应力（如电压极限和载荷变化）以及这些应力的组合，激发内在缺陷。而且，高加速寿命试验着力于使产品达到失效，以便评定超出其计划使用范围的设计健壮性和超过规定工作极限的设计裕度。