SXR-225 X-Ray测厚仪主要由以下三部分组成：
1） 一个X射线发生源（SOURCE），产生适量的、可控的X射线；
2） 一个固态侦测器（DETECTOR），测量未被吸收的X射线；
3） 一个高级模块化设计的变送器（CONTROL CONSOLE），用于控制、读取发生源及侦测器；
发生源电压等级（KV）由客户根据测试材质和厚度的不同选定。
工作时，发生源产生的脉冲X 射线穿透被测物、被侦测器侦测到。材质相同时，随着被测物厚
度增加，被测物吸收的X 射线越多，相应地，透过被测物被侦测器侦测到的X 射线越少。侦测到的X 射线信号
被发送到变送器用于金属补偿或厚度显示。
