（discrete semiconductor devices parametric diagram test system）
YB6600是一款很具有代表性的新型半导体分立器件（晶体管）参数图示测试系统，本系统可自动生成功率器件的I-V曲线，也可根据客户的实际需求设置功能测试，直接读取数显结果。系统在失效分析，IQC来料检验及高校实验室等部门有广泛的应用。系统生成的曲线都使用ATE系统逐点建立，保证了数据的准确可靠。系统典型的测试时间是6 to 20ms,通常上百个数据点曲线只需要几秒钟时间便可以展现出来，数据捕获的曲线可导入EXCEL等格式进一步分析研究，是一款高效多功能的高端半导体测试设备。 本系统使用方便，只需要通过USB或者RS232与电脑连接，通过电脑中友好的人机界面操作，即可完成测试。并可以实现测试数据以EXCEL和WORD的格式保存。系统提供过电保护功能，门极过电保护适配器提供了广泛的诊断测试。这些自我测试诊断被编成测试代码,以提供自我测试夹具,在任何时间都可以检测。 test system指标 1.测 试 电 压： ≤2KV 2.测 试 电 流： ≤50A 3.电 压分辨率： 1mV 4.电流 分辨率： 0.1nA 5.测 试 精 度： 0.2%+2LSB 测试范围Test ranges 1．双向可控硅（TRIAC） 2．MOS场效应管MOS field-effect transistors（Power MOSFET） 3．绝缘栅双极大功率晶体管（IGBT） 4．结型场效应管 （J-FET ） 5．晶体管（Transistor） 6．达林顿阵列(Darliknton) 7．稳压（齐纳）二极管（Zener） 8．二极管(Diode) 9．可控硅整流器Silicon controlled rectifier （SCR ） 10．三端稳压器（REGULATOR ） 11．光电耦合器（OPTO-COUPLER） 12．双向触发二极管 （DIAC) 13．固态过压保护器（SOVP） 14．继电器（RELAY）报价：面议
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