YB6020主要特性
1、可控硅触发电流IGT 测量范围： 6—1000uA ，
0—10.00mA, 0—100.0mA 精度：≤3 % 。
2、可控硅触发电压VGT测量范围： 0—5V，精度：≤5 % 。
3、可控硅光耦输入端LED触发电流IFT测量范围：
0—10.00mA, 0—100.0mA 精度：≤3 % 。
4、可控硅光耦输入端LED触发电压VFT
测量范围：0—3V 精度：≤5 % 。
5、可控硅和可控硅光耦输出端，正反向不重复峰值电压
VDSM/VRSM测量范围： 0—2KV精度：≤3 % 。
6、可控硅和可控硅光耦输出端，正反向重复峰值电压
VDRM/VRRM测量范围： 0—1.6KV精度：≤5 % 。
是本公司早期推出的一款半导体分立器件测试测试设备。本仪器适合各电子单位以及在线开发器件做来料测试。可以满足用户大小批量生产测试需要，故障率低也保证了用户的工作效率。在面板窗口提示下操作，双显示对比面板，操作人员不需具备专业知识，使用即可操作。
YB6020测试仪指标
1、主极电压： 2000V
2、主极电流： 200A
3、测试精度： 3%