BATOP专注于激光和太赫兹领域的光学产品，目前在太赫兹光谱仪、太赫兹时域光谱系统（TDS）、太赫兹工具包（Thz Kit）和自由空间太赫兹时域光谱系统（Pre-assembled THz-TDS）领域都有非常具有竞争力的产品。BATOP太赫兹时域光谱仪TDS1008, TDS1010, TDS1015。
BATOP公司的太赫兹时域光谱仪称为TDS10XX系列。TDS10XX系列Thz太赫兹时域光谱仪有两种结构，一种是内部配备了一个氮气净化的样品室，另一种外部的光纤耦合天线。这两种结构都可以利用准直或聚焦的太赫兹光束对样品进行透射和反射测量。例如分析实验室表征实验室材料，对材料进行太赫兹光谱分析。
BATOP太赫兹时域光谱仪TDS1008, TDS1010, TDS1015的主要特点：
l 全封闭结构
l 3种激光波长可选（800nm,1040nm,1560nm）
l 带宽3.5THz
l 可充氮气净化样品室
l 可以选择光纤输入口
频率范围 0.05～3.5THz（800nm激光的TDS1008） 0.05～2.5THz（1040nm激光的TDS1010） 0.05～2THz（1560nm激光的TDS1015） 动态范围 >60dB（800nm激光的TDS1008） >60dB（1040nm激光的TDS1010） >50dB（1560nm激光的TDS1015） 扫描范围 500ps(2GHz频率分辨) 聚焦模式光斑大小 22mm 准直模式光斑大小 1～3mm 1Thz时1mm 采样尺寸 55×55mm（准直结构） 5×5mm（聚焦结构） 外型尺寸 60cm×60 cm×25 cm 重量 50kg BATOP太赫兹时域光谱仪TDS1008, TDS1010, TDS1015的可选功能： SHR：反射测量样品架 FSU：快速扫描单元，速率为100 Hz扫描 光谱仪外部的的光纤耦合天线 IU：和光纤耦合天线配合的传输或反射成像装置 ASU：光纤耦合天线的角扫描装置 配件型号 描述 备注 SHR 反射样品支架 仅含样品室。30个入射角。 在插入SHR后没有必须要调节光谱仪的光路结构 FSU 快速扫描单元 100赫兹@ 5 PS扫描， 10赫兹@ 40 PS扫描 2fca 2光纤耦合天线 天线包括TPX准直透镜和TPX聚焦透镜。 自动扫描角是可能使用的光谱仪软件t3ds 预装配的太赫兹光谱仪（Pre-assembled Thz TDS），全光纤太赫兹光谱仪 BATOP提供预装配的太赫兹时域光谱仪，太赫兹信号一般需要用飞秒激光激发参数，用户需要自行配置的飞秒激光。光路径上发射器和探测器的天线将预先对准。 因此，只需要将激光束照射到光学装置上即可。BATOP预装配的太赫兹光谱时域光谱仪是为熟悉光路调节的客户设计的，客户可以不熟悉THz。BATOP预组装太赫兹时域光谱仪采用T3DS软件包进行控制和数据采集，和电脑配合使用。 BATOP预装配太赫兹时域光谱仪的平均光功率和激发激光波长有关。 脉冲持续时间 100 fs 重复率 50 - 100 MHz 平均光功率 ≥30mW（自由空间天线） ≥100mW（光纤耦合天线，780 nm和1060 nm） ≥50mW（光纤耦合天线，1550 nm） BATOP预装配太赫兹时域光谱仪在不同激光波长激发下的光谱仪类型和产品参数。 激光 光谱仪 参数/描述 波长 类型 ~ 800 nm 自由空间光路 光谱范围0.05 - 4THz *≥75 dB的信噪比 光纤耦合天线 光谱范围0.05 - 3THz 自由空间光学延迟 *≥60 dB的信噪比 基于色散补偿元件预对准Grating 自由空间光路天线 光谱范围0.05 - 4THz，信噪比*≥75dB 和额外的光纤耦合天线 光谱范围0.05 - 3THz，信噪比*≥60dB 基于色散补偿元件预对准Grating BATOP预装配太赫兹时域光谱仪也可提供全光纤的太赫兹时域光谱系统（FC TDS）。 其对激光的要求如下。 FC TDS全光纤太赫兹时域光谱系统激光要求： 波长 1µm，1.56µm 脉冲宽度 ＜200fs（越短越好） 重复频率 ～100MHz 平均功率 ≥60mW FC TDS全光纤太赫兹时域光谱系统的规格参数：BATOP太赫兹工具包（THz Kit）
BATOP提供太赫兹工具包，包括太赫兹信号发生器、数据采集单元、线性平移台和太赫兹天线，当然也提供电脑分析软件。这样就能够帮助熟悉太赫兹时域光谱原理的客户方便地搭建自己的系统。
BATOP公司的太赫兹工具包可以匹配780 nm，1060 nm和1560 nm的飞秒脉冲激光。
BATOP太赫兹工具包的特点
l Electronic box，包括脉冲发生器、锁相检测。
l 与TPX透镜准直的太赫兹天线。
l 500 ps时间延迟线。
l 光谱仪软件T3DS，提供THz脉冲测量，现场计算THz光谱，数据存储与管理，计算复杂折射率样品参数等功能。