系统概述
该系统是一套动态综合测试系统、测试参数多、精度高、 具有过流、过热、水压不足等保护功能。具有连续工作的特点，测试程序由计算机控制，程序设定完成后可自动测试， 系统采用内控和外控两种方式。便于工作人员操作。
测试方法符合GB/TEC 及GB等相关标准。
采用计算机记录测试结果，并转化为EXCEL文件进行处理。
测试系统指标
1.测 试 电 压： ≤2KV
2.测 试 电 流： ≤50A
3.电 压分辨率： 1mV
4.电流 分辨率： 0.1nA
5.测 试 精 度： 0.2%±2LSB
1.3 测试范围
1．双向可控硅（TRIAC）
2．MOS场效应管（Power MOSFET）
3．绝缘栅双极大功率晶体管（IGBT）
4．结型场效应管 （J-FET ）
5．晶体管（Transistor）
6．达林顿阵列(Darliknton)
7．稳压（齐纳）二极管（Zener）
8．二极管(Diode)
9．可控硅整流器（SCR ）
10．三端稳压器（REGULATOR ）
11．光电耦合器（OPTO-COUPLER）
12．双向触发二极管 （DIAC)
13．固态过压保护器（SOVP）
14．继电器（RELAY）