CMXDLP 美国Dakota 测厚仪 CMXDLP 美国Dakota超声波测厚仪
美国Dakota超声波测厚仪专业致力于超声波测厚仪，无损测厚仪。深圳市汉斯福特专业致力于美国Dakota超声波测厚仪研发和销售，为您带来最方面的工控专家。 深圳市汉斯福特科技有限公司 李工 座机： 手机： 传真： Q Q: 公司地址：龙华新区大浪街道大浪社区伟达工业园A栋2楼 测厚仪（thickness gauge ）是用来测量材料及物体厚度的仪表。在工业生产中常用来连续或抽样测量产品的厚度（如钢板、钢带、薄膜、纸张、金属箔片等材料）。 这类仪表中有利用α射线、β射线、γ射线穿透特性的放射性厚度计；有利用超声波频率变化的超声波厚度计；有利用涡流原理的电涡流厚度计；还有利用机械接触式 测量原理的测厚仪等。 MX系列超声波测厚仪 MX-1 MX-2 MX-3 MX-5 MX-5DL MMX-6 MMX-6DL MMX-7 MVX CMX系列超声波测厚仪 CMX CMXDL CMXDLP PX系列超声波测厚仪 PX-7 PX-7DL PVXPVX高精度超小型A/B波形显示壁厚腐蚀检测仪 PVX VX 涂层测厚仪采用电磁感应法测量涂层的厚度。位于部件表面的探头产生一个闭合的磁回路，随着探头与铁磁性材料间的距离的改变，该磁回路将不同程度的改变，引起磁 阻及探头线圈电感的变化。利用这一原理可以精确地测量探头与铁磁性材料间的距离，即涂层厚度。 涂层测厚仪具有两种测量方式：连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE）； 具有两种工作方式：直接方式（DIRECT）和成组方式（APPL）； 英国真尚有公司研发的测厚仪使用了新的非接触式测量方法，可以实现对纸张的非接触式测量，避免对纸张造成形变引起误差。测量精度达到微米级 测厚仪，并且可以在线测量。实现生产自动化的闭环控制。 非接触式测厚仪的测量原理：使用两个纸张厚度传感器安装在被测物（纸张）上下方，将传感器固定在稳定的支架上，确保两个传感器的激光能对在同一点上。随着被测物 的移动传感器就开始对其表面进行采样，分别测量出目标上下表面分别与上下成对的激光位移传感器距离，测量值通过串口传输到计算机，再通过我们在计算机上的测厚软 件进行处理，得到目标被测物体的厚度值。非接触式纸张测厚仪同样可以测量其他薄膜类、片材类物体的厚度。