ing测试
一般电镜上只配了DC电子束偏转线圈，只有配了扫描附件之后，也就是在DC线圈上叠加一个AC线圈之后，可以控制电子束平行于光轴在样品上扫描，一般如有STEM的话，就可以做Mapping。
TEM是把经加速和聚集的电子束投射到非常薄的样品上，电子与样品中的原子碰撞而改变方向，从而产生立体角散射。透射电子显微镜在材料科学、生物学上应用较多。散射角的大小与样品的密度、厚度相关，因此可以形成明暗不同的影像。通常，透射电子显微镜的分辨率为0.1～0.2nm。
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