E5070B
提供了最快、最精确的射频器件测量能力。其先进的体系结构通过减少扫描次数来完成多端口测量，进一步提高了测试吞吐率。
300 kHz 至 3GHz
在测试端口处保持125 dB动态范围（典型值）
扫描速度：9.6微秒/点
迹线噪声：0.001 dB rms
集成的2、3和4端口，带有平衡测量能力
夹具嵌入/反嵌和端口特性阻抗转换
用于变频设备的频率偏置模式
内置Visual Basic ® for Applications（VBA）
测量向导助手软件
主要技术指标
在测试端口处保持125 dB动态范围（典型值）
扫描速度：9.6微秒/点
迹线噪声：0.001 dB rms
集成的2、3和4端口，带有平衡测量能力
夹具嵌入/反嵌和端口特性阻抗转换
用于变频设备的频率偏置模式
内置Visual Basic for Applications（VBA）
测量向导助手软件
要技术指标
在测试端口处保持125 dB动态范围（典型值）
扫描速度：9.6微秒/点
迹线噪声：0.001 dB rms
集成的2、3和4端口，带有平衡测量能力
夹具嵌入/反嵌和端口特性阻抗转换
用于变频设备的频率偏置模式
内置Visual Basic for Applications（VBA）
测量向导助手软件
要技术指标
在测试端口处保持125 dB动态范围（典型值）
扫描速度：9.6微秒/点
迹线噪声：0.001 dB rms
集成的2、3和4端口，带有平衡测量能力
夹具嵌入/反嵌和端口特性阻抗转换
用于变频设备的频率偏置模式
内置Visual Basic for Applications（VBA）
测量向导助手软件