高温储存寿命实验目的 为了考核高温对试样的影响，确定试样在高温条件下存储的适应性。该实验一般用到高低温 试验箱。 实验原理 电子元器件在高温环境中，其冷却条件恶化，散热困难，将使器件的电参数发生明显变化或 绝缘性下降。使电子元器件处于高温下一定时间,考核电子元器件的外观与电参数是否发生变 化，从而确定电子元器件的抗高温能力。
实验室参考标准：AEC-Q100-Rev-HA6
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