产品简介：
扫描迈克尔逊干涉仪
正负1.5 pm的波长精度
内置波长基准的连续校准
RS-232和GPIB远程接口
高精度光谱分析
WA-1600波长计系统是为连续波（CW）激光源的简单，自动和准确的波长测量而设计的仪器。
波长计系统在扫描迈克尔逊干涉仪中对输入激光辐射产生的干涉条纹进行计数，并同时对内置参考激光器的条纹进行计数。
输入激光器和参考激光器的条纹数之比提供了输入激光器的波长。
WA-1150波长计光波长计提供zui 的波长测量，同步功率测量，专为在制造环境中表征WDM组件而设计。
这些系统采用Burleigh经过验证的扫描迈克尔逊干涉仪波长计技术，
通过比较其干涉条纹图案与内置HeNe激光波长标准的干涉条纹图案来确定测试激光的波长。
与其他波长计不同，所有可能影响波长测量的因素都考虑在内，以便使用WA-1150实现±1 ppm的zui高波长精度。