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泰克371B 供应量 Tektronix371B

  • 发布时间:2024-09-11 10:51:19
    报价:面议
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    泰克371B 供应量 Tektronix371B

    泰克 371B 曲线跟踪仪用于测试各种功率半导体。Tektronix371B 是高功率曲线  器的行业 ,可对各种功率半导体执行直流参数表征,包括晶闸管、SCR、IGBT 和功率 MOSFET。高压集电极模式允许测试高达 3,000 伏的器件的关闭特性。脉冲高电流集电极模式提供大于 400 安培峰值的输出电流脉冲,用于测试导通特性。它还允许进行高达 3,000 瓦的高功率测试。

    Tektronix 371B 测量的交互式控制是从全功能前面板或通过 GPIB 完成的。每个操作参数都可以使用 GPIB 控制器进行控制。  上提供了 Tektronix 371B 系列 LabView 驱动程序。这些驱动程序具有许多构建块来创建自定义测量解决方案。

    多 80 条数字化特性曲线可以存储在软盘或内部非易失性存储器中,只需按一下按钮即可调用。然后可以将实时曲线与先前存储的曲线进行比较,以评估温度漂移或操作参数的其他变化。为帮助识别数据,多可使用 24 个字符的文本来标记或注释曲线数据。可以使用多种存储方法调整、存储和调用操作参数,包括系统内存、内置 1.44 MB 软盘驱动器,或通过 GPIB 控制器发送到外部。

    Tektronix 371B 提供三种光标测量模式。点光标提供任何点的电压、电流、gm 或 DC beta 的直接屏幕读数。窗口光标可以定位在两条曲线之间以测量小信号 beta 或 gm,也可以用于视觉通过/不通过测试。功能线光标提供斜率或截距值的屏幕读数。

    测试夹具是一种标准附件,可提供安全的设备外壳,以确保在测量期间保护操作员。测试夹具可容纳带开尔文感应功能的标准适配器。

    泰克 371B 高功率曲线跟踪仪的特点包括:

    半导体器件的高精度测量

    高压和电流源(高达 3,000 V 或 400 A)

    内置光标测量 - 点、窗口和功能线

    波形比较和平均开尔文检测测量

    完全可编程

    1.44 MB 软盘驱动器存储设置和曲线位图

    使用第三方打印机直接打印硬拷贝

    Tek 371B 曲线 踪器的替代品:Tektronix 371A 

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