一、概述
DBC-223型半导体器件静态特性综试验台的测试方法符合1. 该测试系统是一套静态综合的测试系统，综合测试参数多，技术水平较高。
3. 该系统是一套静态参数的集成测试系统，因此该设备的结构设计较为复杂
5. 该系统采用计算机记录测试，并可将测试转化为6. 该测试系统是半导体器件检验测试中不可缺少的专用测试设备。
1) 门极触发参数测试单元
3) 通态电压参数测试
5) 计算机控制系统
1. 阻断电压（DRMV200—6000V，分辨率 分两档：10V，准确度±3%±10V；
10V，准确度±3%±10V；
(I\I)：
1-99mA
计算机设定测试时断态/反向峰值电流的保护电流的数值。
50H5. 测试方式：手动测试方式；