对无源元器件和简单的有源器件执行基本分析 适用于对成本非常敏感的应用,可以在高达 20 GHz 的频率范围内精确测量 S 参数 具有出色的性价比,可用于微波器件制造测试 可以配置经济型解决方案,用于信号完整性测量和材料表征 多点触控屏和直观的用户界面加速对元器件特性的分析
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