美国博曼膜厚仪测试仪，卓越领先的XRF系统
高分辨率的固态探测器具有良好的元素分辨能力，无需二次滤波器。 峰位长时间保持稳定，无需频繁地进行再校准。
与竞争对手的设备相比，X射线管和探测器的闭合耦合几何布局提供了三倍以上的光子数。 这使得Bowman系统能够以更短的测量时间实现更低的检测限和更高的精度。
一：智能化设计，强大的分析：
1:几秒内完成金属镀层无损分析
2:成分分析最多可分析25种元素
3:同时测量多达五个涂层，所有 涂层都可以是合金
4:基础参数法-半定量分析厚度与成分
5:轻松设置和操作 - 一根USB完成连接
6:简洁的前控制面板
7:占地面积小，节约空间
8:轻量化设计，方便挪动
二：直观的用户界面
1:提供分析灵活性，同时减少用户出错机会
2:基于.Net框架 Xralizer 软件
3:直观的图标引导用户界面
4:强大的定性/无标样分析功能
功能强大的标准片库
5:可定制快捷键，方便操作
6:灵活的数据显示和导出
7:强大的报告编辑生成器
三：性能，强大便利
1:紧密耦合的几何设计极大提高测量效率和精度
2:经验证的固态探测器可提供更高的分辨率，稳定性和灵敏度
3:仪器预热时间短，X射线管灯丝寿命长
4:可实现银、锡的L线薄膜分析
多位置一次滤波器与多规格准直器可供选择
5:灵活的焦距为复杂形状或厚度较大的样品提供测量便利
6:模块化组件设计，维护简单
四：超长寿命的X射线管
1：50W微聚焦型射线管钨靶（可选Mo\Rh\Cr\Ag)
2：射线出射点预置于射线管Be窗正中央
3：黄铜管体X射线管，确保良好散热性能，有效延长射线管寿命