美国博曼（BOWMAN） BA-100系列X射线荧光测厚仪
高性能XRF镀层测厚仪
1：XRF 荧光分析基本原理
Bowman X-ray 产品利用 X 射线荧光技术用于材料厚度和成份分析。X-ray 由德国物理学家伦琴在 1895年发现，他将在胶片曝光时发现的未知光源称为 X-Ray。他发布了自己手指 X-Ray 照片。现在我们知道 X-Ray 是电磁辐射的一部分，他的频率比紫外线高，比伽马线低。
X-Ray 可以理解为粒子和光子，使用能量单位 eV 来描述。能量单位和波长单位是可以互换的。E (KeV) = 12.34/λ (angstrom).X-ray 即是一种波也是一种粒子。在理解 X 射线一些性质是这是很重要的概念。X 射线穿过电子或其他带电粒子能产生电离辐射。在 X 射线管内部电子加速轰击靶材，然后停止，电子的动能转为 X 射线和热能。X 射线产生的过程效率很低。电子能量的大部分是转为热能。X-ray 拥有很多波动性，干涉，折射，反射和偏振。返些性能形成 X-ray 影像和 X-ray 衍射的功能。另外还有两个重要的效应，光电效应和康普顿散射效应。XRF 以这两个效应为基础建立。在 1880 年，人们发现当射线打在特定的金属上时，金属表面生成很多电子流生成电流。这种现象称作光电效应。
X 射线荧光与光电效应有关。电子被轰击出它的轨道并产生空穴。更高能量将补充空穴。两层轨道的能量差以荧光 X 射线，二次射线释放。Moseley 发现荧光 x 射线的能量与原子序数有关 E=K (Z-C)2 每个元素的荧光都有自己的能量成为特征 X 射线。bowmanX 射线装置利用 X 射线荧光原理测量镀层和成份。样品被来自射线管的射线轰击，产生荧光。通过荧光的能量我们可以知道样品中存在哪些元素，通过 XRF 的强度我们可以样品的厚度及每个元素的成份。X 射线人眼是看不见的。需要设备将 X 射线转换成我们可以理解和处理的信号以便我们可以从 x 射线中提取信息。此设备称为探测器。探测器与数字脉冲器（将 x 射线转为电信号）。
X荧光原理图：
金属特征能量图：
2：关于美国博曼（Bowman)
Bowman由建立CMI International的技术团队创立，并成功发展公司，成为XRF电镀测量行业备受尊敬的领导者。 Bowman团队为客户提供了超过三十年的涂层厚度测量和元素分析行业综合经验的优势。博曼致力于提供前沿的分析解决方案，来满足全球制造企业、电镀企业和经销商，所有产品产于美国。目前，在全球四大洲20余个国家（美国、中国、韩国、台湾、日本、南亚、东南亚、英国、德国、波兰、意大利、法国、匈牙利、俄罗斯、土耳其、西班牙、葡萄牙、墨西哥、巴西、哥伦比亚等）建立销售和服务网络 为客户提供灵活高效的镀层厚度测量和元素分析方案。好的服务和支持团队为品质保驾护航。
博曼团队：30余年行业经验 以创新，获得业界认可
Bowman BA-100依据ASTM B568，DIN 50987和ISO 3497标准，保证符合IPC-4552A，4553A，4554和4556规范。采用X射线荧光光谱法，仪器通过X射线原理，可快速、非破坏无损检测、准确测量金属底材或非金属底材上的金属镀层。可测13号铝元素到92号铀元素进行高精度测量分析，根据镀层种类和结构的不同，一般的可测量厚度范围从几个纳米到100微米不等，最多可测5层(4层镀层+底层)，每层最多可含10种元素，可同时分析合金材料内最多25种元素含量。